环境扫描电子显微镜 Scanning Electron Microscopes 仪器型号:XL-30-ESEM 生产厂家:荷兰FEI 购置日期:2000.12 管理人员:陈新芳 仪器主要技术参数及配置: 技术参数:点分辨率2.5nm,加速电压1kV~30kV,放大倍率25倍~30万倍, X射线能谱:成分分析6C-92U 。 配置:除了配有常规的高分辨率二次电子检测器之外,还配有气体二次电子检测器、背散射电子检测器及x-射线元素分析能谱仪、图像分析等。具有常规的干燥样品以及接近于常态下的含水湿样品等多项先进的分析检测功能。检测结果有常规的光学胶卷、视频图片打印、刻录光盘、图谱表等选择,应用非常方便。 仪器主要用途: 可广泛用于动植物、昆虫、微生物、病菌以及其它材料的表面形态研究及其元素分析、图像分析等。 |

