仪器参数

X射线光源 Cu靶，陶瓷基复合光管，电压20~60kV，电流2~60mA ；测角仪 精度高，角度重现性达±0.0001o，最小步长为0.0001o， 2θ扫描范围：-3°~162°，常规2θ扫描可从0.3°开始扫描；工作模式为θ/θ模式，可联动或单独驱动，垂直方式；测角仪半径不少于285mm; 最大定位角度： 1000°/分；光学系统：所有光路系统可程序自动调节；双探测器系统；原位高温附件，温度范围：室温~1500℃。

主要应用

样品的物相分析（定性分析） 晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布 物相定量分析 薄膜物相鉴定，薄膜高温分析 测量纤维或高分子样品的物相、取向度等 织构分析 应力分析。适用于有机无机等各类固体材料。

样品要求

粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量>100mg。 块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤5mm，直径≥2cm。 特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。 告知测试的起始角度， 若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知。送样人需尽量提供样品中所含的元素种类 ，易变质样品需提前与仪器操作人员联系预约测试时间, 剧毒样品需特别注明。 请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。

仪器说明

具体收费标准，以测试前跟管理员确认的为准。

收费标准

校内送样：55.0元/样（备注：在老师指导下完成。校内常温样品：常规谱图扫描（采集时间）小于10分钟: 50元/样; 常温慢扫描加收50%。 样品制备材料费:15元/样）

自主上机：180元/小时（备注：具有独立上机资格，能独立完成整个实验。样品制备材料费:15元/样）。

校外送样：115.0元/样（备注：委托检测.常温慢扫描根据增加的分析时间长短加收50-100%。）