生产厂家：Rigaku(日本株式会社理事)

仪器型号：Ultima IV

仪器价格：116.9万元

资产编号：1719946W

购置日期：2016-08-23

放置地点：科技楼测112

管理人员：吕雪娟

仪器参数：

X射线光源 Cu靶，陶瓷基复合光管，电压20~60kV，电流2~60mA ；测角仪精度高，角度重现性达±0.0001o，最小步长为0.0001o， 2θ扫描范围：-3°~162°，常规2θ扫描可从0.3°开始扫描；工作模式为θ/θ模式，可联动或单独驱动，垂直方式；测角仪半径不少于285mm; 最大定位角度： 1000°/分；光学系统：所有光路系统可程序自动调节；双探测器系统；原位高温附件，温度范围：室温~1500℃。

仪器应用：

样品的物相分析（定性分析）晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布物相定量分析薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量纤维或高分子样品的物相、取向度等织构分析应力分析。适用于有机无机等各类固体材料。

样品要求：

     粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量>100mg。块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤5mm，直径≥2cm。特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。告知测试的起始角度，若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知送样人需尽量提供样品中所含的元素种类, ，易变质样品需提前与仪器操作人员联系预约测试时间, 剧毒样品需特别注明。请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。